航空插頭絕緣失效的原因

對航空插頭失效品和正常品進行高溫試驗,高溫冷卻后的樣品測試絕緣,分別和結果表明,故障產品含有一定量的水分在航空插頭,與此同時,水的存在和高溫會降低航空插頭的絕緣電阻。

然后對航空插頭故障產品拆卸實驗,發(fā)現(xiàn)航空插頭剩余內部絕緣組件有淺藍色的腐蝕,光一層金屬薄膜,失敗航空插頭之前和之后的拆遷封裝膠絕緣電阻測試,結果表明,失敗后拆卸航空插頭的絕緣合格,并封裝膠測試其絕緣電阻是正常的。

所有金屬部件的航空插頭EDS測試,結果表明,金屬條的金屬部件的表面鍍銀的銅鋅合金,和其他金屬部件沒有銅鋅銀原料,淺藍色的腐蝕,和遷移的銀膜是金屬與金屬接觸一條組件,所有組件的絕緣,紅外分析結果表明,該絕緣組件分別有聚酯,硅膠,PVC(封裝膠),分別對封裝膠和正常封裝脫膠商品用于離子色譜分析,結果表明,氯離子含量的失敗產品包裝膠是正常產品的1.8倍,潮濕環(huán)境中氯離子的存在會大大促進金屬部件的腐蝕和離子導電路徑的形成。